高精度共晶粘片-非接触光学表面测量-xray检测-北京创世杰科技发展有限公司

产品资料
白光共聚焦测试仪VANTAGE 1
简介:

VANTAGE 1是一台紧凑的、非接触式膜厚测量系统,用于快速扫描任何部件或表面。该系统集成了一个高精度白光共聚焦传感器、一个集成了可平移的基本单元和一台用于数据分析的电脑。传感器在样品上扫描并产生一个高分辨率的高度轮廓,通过软件的自动计算给出膜厚等数据。

产品详情

设备特点:

非接触式2D测量,干膜湿膜均可测量

分辨率低至8nm,测量范围*高可达8mm

高性价比,基于高精度共焦传感器

大理石主体架构,碳纤维外壳

高精度直线电机,*大70mm运动行程

适用领域:厚膜印刷电路,混合电路(Hybrid Circuit)、BGA、TAB 及 FLIP/CHIP、SOLDER BUMPING厚度测量、SMT印刷锡膏测量、2D尺寸及角測

 


应用案例:

1、混合电路膜厚测量

 


2、多层陶瓷电容表面测量

 


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